1.非接觸式測量

　　采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠保證樣品的完整性。

　　2.測量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。

　　3.測量快速

　　測量過程非?？焖?，因為該設(shè)備采用了*結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠極大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍極其廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

　　光學(xué)膜厚儀的使用注意事項

　　1.零點校準

　　在每次使用膜厚儀之前需要進行光學(xué)校準，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加精確。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用光學(xué)膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準確，影響測量過程的正常進行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以保證測量結(jié)果的精確性。

　　以上便是今天關(guān)于邁可諾總結(jié)的關(guān)于光學(xué)膜厚儀使用的事項真是齊全到位啊的全部分享了，希望對大家今后使用本設(shè)備能有幫助。