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全自動(dòng)八度角積分式立式反射率測(cè)試儀SM120，應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控，降低損耗提供了有效的檢測(cè)方案。

SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀采用顯微系統(tǒng)，可以進(jìn)一步縮小光斑大小，從而實(shí)現(xiàn)非常優(yōu)秀的空間分辨率。同時(shí)，SM280采用一體化設(shè)計(jì)，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的3軸移動(dòng)平臺(tái)。

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測(cè)繪儀，由測(cè)繪主機(jī)、測(cè)繪平臺(tái)、Y型光纖及上位機(jī)軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺(tái)，

SM200系列光學(xué)薄膜厚度測(cè)量儀是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)薄膜厚度測(cè)繪儀，由測(cè)繪主機(jī)、測(cè)繪平臺(tái)、Y型光纖及上位機(jī)軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀結(jié)合算法技術(shù)。

品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測(cè)厚儀、干涉儀、厚度測(cè)量儀 干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。

品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測(cè)厚儀、干涉儀、厚度測(cè)量儀 干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。