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簡要描述：品牌：希臘ThetaMetrisis名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精
產(chǎn)品型號(hào)：FR-uProbe 廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-05-16訪 問 量：2259產(chǎn)品分類
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FR-uProbe是涂層表征應(yīng)用的解決方案，要求光斑尺寸小*小微米，例如微圖案表面，具有不規(guī)則表面的樣品，其表現(xiàn)出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uProbe，在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)，反射率，透射率和吸光度測量只需點(diǎn)擊即可。
FR-uProbe簡單地連接到大多數(shù)商用光學(xué)顯微鏡的C接口適配器，并提供：
o實(shí)時(shí)光譜測量
o薄膜厚度，光學(xué)性能，非均勻性測量
o使用集成的USB連接和高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像
o顯微鏡本身的性能不受影響
工作原理
白光反射光譜（WLRS）測量在一定波長范圍內(nèi)從薄膜或多層疊堆反射的光量，入射光垂直于（垂直于）樣品表面。
通過來自界面的干涉產(chǎn)生的測量的反射光譜用于確定自支撐和支撐（在透明或部分/全反射基板上）薄膜堆疊的厚度，光學(xué)常數(shù)（n和k）等。
應(yīng)用
o大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室
o半導(dǎo)體（氧化物，氮化物，硅，抗蝕劑等）
o MEMS器件（光刻膠，硅膜等）
o LED
o數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
o陽極氧化
o彎曲基板上的硬/軟涂層
o聚合物涂料，粘合劑等
o生物醫(yī)學(xué)（聚對(duì)二甲苯，氣球壁厚等）
特征
o 單擊分析（無需初始猜測）
o 動(dòng)態(tài)測量
o 集成USB攝像頭
o 保存視頻進(jìn)行演示
o 350+不相同的材料
o 3年免費(fèi)軟件更新
o 在Windows 7/8/10上運(yùn)行
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